DFT，可测试性设计（Design for Testability，DFT）是一种集成电路设计技术，会在设计阶段进行一些特殊结构的入口电路，以便设计完成后进行测试。电路测试有时并不容易，这是因为电路的许多内部节点信号在外部难以控制和设置。通过添加可测试性设计结构，例如扫描链等，内部信号可以暴露给电路外部。总之，在设计阶段添加这些结构虽然增加了电路的复杂程度，增加了成本，但是往往能够在测试阶段节省更多的时间和金钱。
IDFT就是快速离散傅里叶变换离散傅里叶逆变换。FFT就是快速傅里叶变换傅里叶变换。
两者的应用都是将时域中难以处理的信号转换成容易处理的频域信号，分析完成后进行里叶反变换即得到原始的时域信号。
两者的异同是：我们知道在数学上用级数来无限逼进某种函数，以便简化计算过程倾斜不致使托盘过大，这样工程上才能应用，否则一些数学模型是无法快速实现的。
IDFT：对于有限长的序列我们可以使用离散傅立叶变换，IDFT是对序列傅立叶变换的等距采样。
FFT ：不是与IDFT变换的另一种变换（即原理是一样的），而是为了减少IDFT开销的一种快速算法。它是对IDFT变换式进行一次的排列，变成几个小积分IDFT的组合，从而减少损害量。常用的FFT为2为基数，其损害效率高，程序比较简单，使用也十分方便。
IFFT——快速傅里叶逆变换快速傅里叶变换。
快速傅里叶变换（fast Fourier Transform），即利用计算离散计算机傅里叶变换（DFT）的高效、计算方法的统称，简称FFT。傅里叶变换是1965年由J.W.库利和T.W.图基提出的。采用这种算法使得计算机计算离散傅里叶变换所需要的乘法次数大大减少，特别是被变换的积分分数N越多， FFT 算法计算量的节省效果显着。