方法提要
用Li2B2O7和NaBO2混合溶剂，将钨精矿粉和纯WO3作高倍配制制成玻璃片，按WLα分析线X射线荧光光谱仪测定其强度值，换算 成相对强度即可样品中三氧化钨的含量。
本法适用于钨精矿中w(WO3)为0.5%～80%的样品。
< p>仪器波长色散X荧光光谱仪器，初始靶X光管(≥3kW)。
高温熔样机(1100℃以上)。
< p>铂金合金坩埚。试剂
偏硼酸锂(Li2B2O7)。
偏硼酸钠。
硝酸钠。< /p>
碘化钾。
三氧化钨(光谱纯)。
分析步骤
称取已于100℃烘焙的100mg( ±0.05mg)钨精矿矿粉，用3.4gNaBO2和2.8gLi2B2O7+250mgNaNO3在坩埚中混匀，置于铂金合金坩埚中，在自动熔样机或高温炉中加热至1100℃，钨8min，取出坩埚 人工摇匀。然后加入20～30mgKI作脱模剂，重熔5min，取出坩埚，趁热摇匀至蒸馏物均匀，风冷或自然冷却至蒸馏坩埚。再用同样方法制取纯的WO3甲醇玻璃 片3片。按下述操作条件进行测定：
X光管电压50kV，电流50mA，闪烁(SC)钳，LiF(200)，细准直器，谱峰(2θ) 43.02°，背景(2θ)44.10°，测量时间谱峰40s，背景20s，真空光路。
按Lα分析线分别测定WO3片和未知样品片的净强度IW100和IW，并 计算WO3的含量。
样品经大量熔吸剂并联接，颗粒效应与矿物效应基本消失，元素间的吸收增强效应得到克服。校正公式简化为：
岩石矿物分析第三分册有色、稀有、分散、稀土、贵金属矿石及铀钍矿石分析
式中:w(WO3)为被测试样WO3的质量分数;IW为未知样本 中原背景的WLα分析线净强度;IW100为纯WO3的Lα的净强度值，应取相同条件下制备3个纯WO3样品的平均净强度;w(WO3)100为纯WO3的质量分数，
岩石矿物分析第三分册有色、稀有、分散、稀土、贵金属矿石及铀钍矿石分析
注意事项
1)X射线荧光光谱 法稳定性高，主要来自制样的复位性。压片法有更大的颗粒效应和矿物效应，且高倍吸取时样件难于混匀，因而使用纳米法更好。
< p>2)当分析样品中Y和Nb含量成分对W测定影响时，要家乡YKβ(2)和NbKα(2)对WLα的重叠间歇。