透射電鏡主要用於觀察什麽如下：
透射電鏡主要用於觀察小於0.2μm、高分辨率、高放大倍數的超微結構。
透射電鏡（TEM）全稱透射電子顯微鏡，是用電磁場作透鏡，把經加速和聚集的電子束投射到超薄切片的樣品上（通常70-90nm），電子與樣品中的原子碰撞而改變方向，從而產生立體角散射，散射角的大小與樣品的密度、厚度相關，因此可以形成明暗不同的影像，影像將在放大、聚焦後在成像器件上顯示出來。
透射電鏡是壹種高分辨率（0.1nm-0.2nm）、高放大倍數（0.2K-600K）的顯微鏡，是觀察和研究物質超微結構的強有力工具。
透射電鏡不僅可以用於觀察樣品的超微結構，還可以用於研究材料的物理和化學性質，如電子散射、電子衍射、電子能譜等。此外，透射電鏡也可以與X射線衍射、光譜分析等其他技術結合使用，提供更多有關材料的信息。
透射電鏡與掃描電鏡（SEM）的主要區別在於，透射電鏡觀察的是樣品的超微結構，而掃描電鏡則主要用於觀察樣品的表面形貌。此外，透射電鏡的樣品需要制備成超薄切片，而掃描電鏡的樣品則不需要。
總之，透射電鏡是壹種高分辨率、高放大倍數的顯微鏡，主要用於觀察和研究物質超微結構。它是材料科學、生物學、醫學等領域的重要研究工具之壹。